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基于UVM验证方法学的纵向可重用研究

熊涛 蒋见花

熊涛, 蒋见花. 基于UVM验证方法学的纵向可重用研究[J]. 微电子学与计算机, 2016, 33(4): 64-68.
引用本文: 熊涛, 蒋见花. 基于UVM验证方法学的纵向可重用研究[J]. 微电子学与计算机, 2016, 33(4): 64-68.
XIONG Tao, JIANG Jian-hua. Research of Vertical Reuse Based on UVM[J]. Microelectronics & Computer, 2016, 33(4): 64-68.
Citation: XIONG Tao, JIANG Jian-hua. Research of Vertical Reuse Based on UVM[J]. Microelectronics & Computer, 2016, 33(4): 64-68.

基于UVM验证方法学的纵向可重用研究

详细信息
    作者简介:

    熊涛,男,(1989-),硕士研究生,研究方向为数字集成电路物理设计与验证.E-mail:xiongtao@ime.ac.cn.

    蒋见花,女,(1976-),副研究员.硕士生导师,研究方向为数字集成电路低功耗设计.

  • 中图分类号: TN47

Research of Vertical Reuse Based on UVM

  • 摘要: 现在片上系统(SOC)的复杂度和集成度越来越高,这给验证带来了巨大的挑战.传统的验证方法存在各种不足,在效率方面已经远远达不到生产的要求.UVM是近年来兴起的一种高效的通用验证方法学,不仅可以缩短验证周期,而且具有很好的可重用性.UVM验证方法学的可重用主要分为横向的可重用和纵向的可重用,主要阐述了UVM中纵向可重用的方法,并以APB总线为例,描述了从模块级到系统级的验证平台的搭建方法,这种方法很好地体现了纵向重用提高验证效率的优势.
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出版历程
  • 收稿日期:  2015-06-18
  • 修回日期:  2015-08-07

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